T/CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

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发表于 2023-8-17 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：T/CASAS 029-2023
中文名称：Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
英文名称：Test method for microwave characteristics of Sub-6GHz GaN radio-frequency devices
发布部门：北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
发布日期：2023-06-30
实施日期：2023-07-01
标准状态：现行
标准页数：18页
内容简介：T/CASAS 029—2023《Sub-6GHz GaN 射频器件微波特性测试方法》描述了Sub-6 GHz GaN 射频器件微波特性的详细测试方法。本文件适用于共源组成方式的GaN 射频器件，其它组成方式仅供参考。制定Sub-6 GHz GaN 射频器件微波特性的测试方法以及相关规范，对研发生产、性能评估、量产测试和应用评价等具有重要指导意义。

T_CASAS 029-2023 Sub-6GHz GaN射频器件微波特.pdf (954.38 KB)

标准文档截图：

北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

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