标签: 中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟相关帖子 |
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T/IAWBS 014-2021 碳化硅单晶抛光片位错密度的测试方法
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团体标准 | lemon2000 2021-9-17 | 0 1355 | 标准分享 2021-9-17 21:48 |
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T/IAWBS 015-2021 氧化镓单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法
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团体标准 | lemon2000 2021-9-17 | 0 1559 | 标准分享 2021-9-17 21:48 |
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T/IAWBS 001-2021 碳化硅单晶
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团体标准 | lemon2000 2021-9-22 | 0 1880 | 标准分享 2021-9-22 20:12 |
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T/IAWBS 004-2021 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
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团体标准 | lemon2000 2021-9-22 | 0 1869 | 标准分享 2021-9-22 20:12 |
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T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片 X 射线双晶摇 摆曲线半高宽测试方法
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团体标准 | lemon2000 2022-3-24 | 0 1706 | 标准分享 2022-3-24 23:02 |
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T/IAWBS 001-2017 碳化硅单晶
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团体标准 | w94281678 2022-6-3 | 0 2306 | w94281678 2022-6-3 04:03 |
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T/IAWBS 002-2017 碳化硅外延片表面缺陷测试方法
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团体标准 | w94281678 2022-6-3 | 0 2459 | w94281678 2022-6-3 04:05 |
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T/IAWBS 003-2017 碳化硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
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团体标准 | w94281678 2022-6-3 | 0 2963 | w94281678 2022-6-3 04:05 |
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T/IAWBS 004-2017 电动汽车用功率半导体模块可靠性试验通用要求及试验方法
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T/IAWBS 021-2024 碳化硅晶片边缘轮廓检验方法
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团体标准 | gaigan01 2024-5-17 | 0 725 | gaigan01 2024-5-17 23:27 |
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