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标准编号：GB/T 14030-1992
中文名称：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
标准状态：现行
标准页数：13页
内容简介：本标准规定了半导体集成电路时基电路(以下简称器件或时基电路)电参数测试方法的基本原理。
GB_T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理.pdf
(483.91 KB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26