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标准编号：GB/T 16822-1997
中文名称：介电晶体介电性能的试验方法
英文名称：Test method for dielectric properties of dielectric crystal
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1997-05-28
实施日期：1998-02-01
标准状态：现行
标准页数：7页
内容简介：本标准规定了介电晶体的低频(10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
GB_T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法.pdf
(606.37 KB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26