标准编号：GB/T 14849.4-2008
中文名称：工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位：中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所等 GBT 14849.4-2008.rar(719.67 KB)
发表于 2016-12-26
