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标准编号：GB/T 12636-1990
中文名称：微波介质基片复介电常数带状线测试方法
英文名称：Stripline test method for complexpermittivity of microwave dielectric substrates
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1990-12-28
实施日期：1991-10-01
标准状态：现行
标准页数：11页
内容简介：本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。本标准适用于测试各种基片(如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等)在微波频率下的复介电常数。测试频率范围:f=1～20GHz测试介电常数范围:ε＇=2～25测试损耗角正切范围:tanδ(e)=5×10^-^4～1×10^-^2
GB_T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法.pdf
(986.93 KB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26