标准编号:GB/T 5594.2-1985
中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young s elastic modulus and Poisson ratio
发布部门:国家标准局
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
标准状态:现行
标准页数:5页
内容简介:本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量的泊松比的测量。 GB_T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨.pdf(221.56 KB)