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标准编号：GB/T 5594.1-1985
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness
发布部门：国家标准局
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
标准状态：现行
标准页数：3页
内容简介：本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
GB_T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气.pdf
(114.29 KB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26