|
|
标准编号：GB/T 14031-1992
中文名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
标准状态：现行
标准页数：17页
内容简介：本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环(以下简称器件或模拟锁相环)电参数测试方法的基本原理。
GB_T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原.pdf
(710.56 KB)
标准文档截图：
 |
|
发表于 2016-12-26