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标准编号：GB/Z 276-2026
中文名称：光电计算 光脉冲神经元性能测试方法
英文名称：Optoelectronic computing—Performance testing method for photonic spiking neurons
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2026-09-24
实施日期：2026-09-24
标准状态：现行
标准页数：11页
内容简介：本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境,描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值、时域累积和不应期特性的测试方法。本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元(以下简称“神经元”)性能测试。
GB_Z 276-2026 光电计算 光脉冲神经元性能测试方法.pdf
(730.75 KB)
标准文档截图：
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发表于 2026-10-28