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标准编号：GB/Z 107-2025
中文名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
英文名称：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
发布部门：国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：2025-12-03 00:00:00
实施日期：1800-01-01 00:00:00
标准状态：现行
标准页数：15页
内容简介：本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
GB_Z 107-2025 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估.pdf
(5.32 MB)
标准文档截图：
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发表于 2026-8-21