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标准编号：T/TAF 356-2026
中文名称：多合一eUICC芯片并发和安全隔离测试方法
英文名称：Convergence eUICC chip concurrency and security isolation test specification
发布部门：电信终端产业协会
发布日期：2026-06-17 00:00:00
实施日期：2026-06-17 00:00:00
标准状态：现行
标准页数：30页
内容简介：本文件规定了如何测试验证面向消费电子类产品的多合一eUICC芯片的并发功能要求，以及如何评估其隔离特性的安全保障等级。本文件适用于多合一eUICC芯片的设计、生产活动，也适用于厂家和第三方评估机构等组织对多合一eUICC芯片的并发和安全隔离测试和评估。
T_TAF 356-2026 多合一eUICC芯片并发和安全隔离测试方法.pdf
(896.5 KB)
标准文档截图：
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