T/ZJBDT 001.1-2025 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法第1部分：总则

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发表于 2025-3-4 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：T/ZJBDT 001.1-2025
中文名称：新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片）存储性及可靠性测试方法第1部分：总则
英文名称：
发布部门：浙江省半导体行业协会
发布日期：2025-01-10
实施日期：2025-01-10
标准状态：现行
标准页数：5页
内容简介：本文件描述了磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片的存储性及可靠性测试方法。本文件适用于磁随机存储芯片、相变存储芯片、阻变存储芯片的存储性及可靠性的评价、认证与考核。

T_ZJBDT 001.1-2025 新型非易失性存储芯片（磁随机存储芯.pdf (206.21 KB)

标准文档截图：

浙江省半导体行业协会

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