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T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

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少尉

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发表于 2024-12-11 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:T/HBAI 001-2024
中文名称:有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法
英文名称:Organic light emitting diode displays – Quantitative evaluation methods of surface Mura
发布部门:湖北省人工智能学会
发布日期:2024-10-17
实施日期:2024-10-25
标准状态:现行
标准页数:20页
内容简介:本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹(Mura)缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。本文件主要适用于有机发光二极管显示器。本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法,同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型,包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。
T_HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mur.pdf (2.16 MB)

标准文档截图:
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