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标准编号：T/CNS 82-2022
中文名称：宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法
英文名称：Test method for total ionizing dose effect of static random-access memory in space application
发布部门：中国核学会
发布日期：2022-12-16
实施日期：2023-04-01
标准状态：现行
标准页数：15页
内容简介：本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。
T_CNS 82-2022 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法.pdf
(656.66 KB)
标准文档截图：
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发表于 2024-5-15