T/CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法

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发表于 2023-11-28 18:09:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：T/CIE 155-2023
中文名称：非易失性相变存储器电性能测试方法
英文名称：Measuring methods of electrical properties for non-volatile phase change memory
发布部门：中国电子学会
发布日期：2023-03-20
实施日期：2023-03-20
标准状态：现行
标准页数：23页
内容简介：本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流-电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。

T_CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法.pdf (3.6 MB)

标准文档截图：

中国电子学会

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