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标准编号：T/CIE 144-2022
中文名称：半导体器件可靠性强化试验方法
英文名称：Reliability enhancement test of semiconductor devices
发布部门：中国电子学会
发布日期：2022-12-31
实施日期：2023-01-31
标准状态：现行
标准页数：18页
内容简介：本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法，并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
T_CIE 144-2022 半导体器件可靠性强化试验方法.pdf
(3.78 MB)
标准文档截图：
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发表于 2023-11-14