T/SCBDIF 002-2023 液晶面板制程 缺陷检测方法

BMW0592

标准编号：T/SCBDIF 002-2023
中文名称：液晶面板制程 缺陷检测方法
英文名称：
发布部门：四川省大数据产业联合会
发布日期：2023-08-30
实施日期：2023-08-30
标准状态：现行
标准页数：11页
内容简介：液晶面板制程是指液晶显示器的核心部件——液晶面板的生产过程，涉及到多种复杂的技术和工艺，如薄膜沉积、光刻曝光、蚀刻剥膜、配向摩擦、胶合贴合、切割分选等。液晶面板制程的质量和效率直接影响到液晶显示器的性能和成本，是液晶显示行业的核心竞争力之一。液晶面板制程缺陷检测是指对液晶面板在生产过程中产生的各种缺陷进行识别和分类的技术和方法，包括点缺陷、线缺陷、Mura缺陷、crack缺陷、broken缺陷、chip缺陷、scratch缺陷、burr缺陷、drop缺陷等。这些缺陷会影响液晶面板的显示效果和可靠性，导致产品不良率增加和客户投诉增多。目前液晶面板制程缺陷检测的主要方式是人工视觉检测和机器视觉检测。
T_SCBDIF 002-2023 液晶面板制程 缺陷检测方法.pdf (223.79 KB)

2023-9-6 上传

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