YD/T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法

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中尉

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发表于 2023-7-10 13:09:14 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：YD/T 3944-2021
中文名称：人工智能芯片基准测试评估方法
英文名称：
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2021-08-21
实施日期：2021-11-01
标准状态：现行
标准页数：16页
内容简介：本文件规定了人工智能芯片基准测试框架、评测指标及评估方法，主要包括基本信息披露和技术测试。本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。

YD_T 3944-2021 人工智能芯片基准测试评估方法.pdf (1.58 MB)

标准文档截图：

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