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标准编号：T/CIE 134-2022
中文名称：磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
英文名称：
发布部门：中国电子学会
发布日期：2022-08-10
实施日期：2022-08-10
标准状态：现行
标准页数：9页
内容简介：本标准给出了磁随机存储（Magnetic Random Access Memory; MRAM）芯片数据保持时间测试方法的术语、测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本标准适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。
T_CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法.pdf
(663.97 KB)
标准文档截图：
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发表于 2022-12-27