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标准编号：T/ZACA 041-2022
中文名称：混合信号半导体器件测试设备
英文名称：Mixed signal semiconductor device test equipment
发布部门：浙江省质量合格评定协会
发布日期：2022-06-28
实施日期：2022-07-01
标准状态：现行
标准页数：22页
内容简介：本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。
T_ZACA 041-2022 混合信号半导体器件测试设备.pdf
(1.99 MB)
标准文档截图：
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发表于 2022-7-4