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标准编号：JJF 1682-2017
中文名称：光栅式测微仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2017-11-20
实施日期：2018-05-20
标准状态：现行
替代标准：JJG 989-2004
标准页数：24页
内容简介：本规范适用于0.1 μm级行程为0～10 mm、0.2 μm级行程为0～25 mm、0.5 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。
JJF 1682-2017 光栅式测微仪校准规范.pdf
(6.8 MB)
标准文档截图：
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发表于 2021-10-5