|
|
标准编号：JJF 1760-2019
中文名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布部门：国家市场监督管理总局
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
标准状态：现行
替代标准：JJG 48-2004
标准页数：24页
内容简介：本规范适用于电阻率在0.003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。
JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范.pdf
(6.64 MB)
标准文档截图：
 |
|
发表于 2022-3-7