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GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

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发表于 2021-6-17 09:39:36 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:GB/T 5095.2509-2020
中文名称:电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰
英文名称:Electromechanical components for electronic equipment—Basic testing procedures and measuring methods—Part 25-9:Signal integrity tests—Test 25i:Alien crosstalk
发布部门:国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
发布日期:2020-04-28
实施日期:2020-11-01
标准状态:现行
标准页数:16页
内容简介:GB/T 5095的本部分规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。本试验规程广泛地适用于机电元件中所有电连接器,尤其适用于IEC 60603-7系列和IEC 61076-3-104中所叙述的连接器,以及用于数据传输的其他类型连接器。
GB_T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程.pdf (6.65 MB)

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