GB/T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

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标准编号：GB/T 13062-2018
中文名称：半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
英文名称：Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1:Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures
发布部门：国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-07-01
标准状态：现行
替代标准：GB/T 13062-1991
标准页数：12页
内容简介：IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国家按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。编制详细规范时，将总规范中3.5和分规范中2.3和3.2的内容考虑进去。
GB_T 13062-2018 半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜.pdf (3.22 MB)

2021-11-4 14:02:41 上传

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