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GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

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少尉

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发表于 2021-10-30 20:59:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:GB/T 1557-2018
中文名称:硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
英文名称:Test method for determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
发布部门:国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期:2018-09-17
实施日期:2019-06-01
标准状态:现行
替代标准:GB/T 1557-2006
标准页数:10页
内容简介:本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的N型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的P型硅单晶中间隙氧含量的测定。以常温红外设备测试时,氧含量(原子数)测试范围从1×10ˇ16 cmˇ-3到硅中间隙氧的最大固溶度;以低温红外设备测试时,氧含量(原子数)的测试范围从0.5×10ˇ15 cmˇ-3到硅中间隙氧的最大固溶度。
GB_T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法.pdf (2.8 MB)

标准文档截图:
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