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标准编号：GB/T 5594.8-2015
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8:Test method for microstructure
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
标准状态：现行
替代标准：GB/T 5594.8-1985
标准页数：6页
内容简介：GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
GB_T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第.pdf
(1.68 MB)
标准文档截图：
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发表于 2021-8-6