标准编号：GB/T 5594.4-2015
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
标准状态：现行
替代标准：GB/T 5594.4-1985
标准页数：8页
内容简介：GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。 GB_T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第.pdf(1.89 MB)
发表于 2021-8-6
