标准编号:GB/T 30869-2014
中文名称:太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
英文名称:Test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell
发布部门:国家质量监督检验检疫总局、国家标准化管理委员会
发布日期:2014-07-24
实施日期:2015-02-01
标准状态:现行
标准页数:7页
内容简介:本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。 GB_T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法.pdf(1.72 MB)