YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

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标准编号：YS/T 644-2007
中文名称：铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
英文名称：Determination method of Pt-Ru alloy film—Determination of alloyed Pt content and alloyed Ru content by X-ray photoelectron spectroscopy
发布部门：中华人民共和国国家发展和改革委员会
发布日期：2007-04-13
实施日期：2007-10-01
标准状态：现行
标准页数：5页
内容简介：本标准规定了铂钌(Pt-Ru)合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量(质量分数)的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌质量分数的测定，也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围：合金态铂质量分数不小于3％，合金态钌质量分数不小于3％。本标准不适用于单层厚度不大于10 nm的层状薄膜。
YS_T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测.pdf (1.09 MB)

2022-6-3 07:48:53 上传

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