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标准编号：T/CSPSTC 25-2019
中文名称：硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法
英文名称：Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic(PV) modules light induced degration(LID)
发布部门：中国科技产业化促进会
发布日期：2019-08-28
实施日期：2019-11-15
标准状态：现行
标准页数：6页
内容简介：主要内容包括范围、术语和定义、装置、抽样、程序、计算、试验报告。在硅基薄膜光伏组件在光照影响下的功率稳定过程中，每个大致相等的辐照周期前后测试最大功率值，最小辐照周期为43kwh/m2，按照IEC 61215-2 MQT 19的规定组件达到稳定后（IEC 61215-1-3：2016中规定（PMAX-PMIN）/PAVE≤2%），持续光照，功率仍旧出现持续下降的趋势。本标准给出以下方程式作为判定组件光致衰减是否达到最终稳定的准则：此处，Pmax、Pmin和Paverage为连续两个周期中测得的三个STC下最大功率的最大值、最小值和平均值。
T_CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法.pdf
(1.19 MB)
标准文档截图：
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发表于 2022-6-3