SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法

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标准编号：SJ 21343-2018
中文名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
发布部门：国家国防科技工业局
发布日期：2018-01-18
实施日期：2018-05-01

SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法.pdf (1.48 MB)

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