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标准编号：YS/T 679-2018
中文名称：非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
英文名称：Test methods for minority carrier diffusion length in extrinsic semiconductors. Surface photovoltage method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2018-10-22
实施日期：2019-04-01
YST 679-2018.pdf
(21.9 MB)
文档首页截图：
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发表于 2021-8-30