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标准编号：T/IAWBS 010-2019
中文名称：碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法
英文名称：Detection method for measuring the surface Detection method for measuring the surface quality and micropipe densityof polished monocrystalline silicon carbide wafers-Laser Scattering Method
发布部门：中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟
发布日期：2019-12-27
实施日期：2019-12-31
TIAWBS 010-2019.pdf
(422.7 KB)
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发表于 2020-8-21