|
|
标准编号：YB/T 4590-2017
中文名称：硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称：Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon material-Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2017-04-12
实施日期：2017-10-01
YBT 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱.pdf
(1.45 MB)
|
|
发表于 2019-2-12