SJ/T 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻

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发表于 2018-12-12 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：SJ/T 2658.5-2015
中文名称：半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 5:Series connection resistance
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01

SJT 2658.5-2015 半导体红外发射二极管测量方法第5部分：串联电阻.pdf (2.83 MB)

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