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标准编号：SJ/T 2658.10-2015
中文名称：半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode-Part 10:Modulation bandwidth
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-10-10
实施日期：2016-04-01
SJT 2658.10-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽.pdf
(3.15 MB)
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发表于 2018-12-12