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标准编号：SJ/T 11491-2015
中文名称：短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
英文名称：Test methods for measurement of interstitial oxygen content in silicon by short baseline infrared absorption spectrometry
发布部门：中华人民共和国工业和信息化部
发布日期：2015-04-30
实施日期：2015-10-01
SJT 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量.pdf
(2.07 MB)
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发表于 2018-12-12