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标准编号：JB/T 12962.3-2016
中文名称：能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪
英文名称：Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer一 Part 3: Plating thickness analyzer
发布部门：工业和信息化部
起草单位：江苏天瑞仪器股份有限公司、南通菲希尔测试仪器有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、牛津仪器(上海)有限公司
JB_T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪.pdf
(3.25 MB)
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发表于 2017-9-4