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JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪检定规程

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发表于 2016-12-26 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:JJG 508-2004
中文名称:四探针电阻率测试仪检定规程
英文名称:Resistivity Measuring Instruments with Four-Probe Array Method
发布部门:国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2004-09-21
实施日期:2005-03-21
标准状态:现行
替代标准:JJG 508-1987
标准页数:19页
内容简介:本规程适用于接触式,测量范围在10ˇ-3Ω·cm~10ˇ3Ω·cm的四探针电阻率测试仪的首次检定,后续检定和使用中检验。对某些多功能的四探针电阻率测试仪或只能测量方块电阻四探针测试仪也同样适用。方块电阻的测量范围在10ˇ-2Ω/□~10ˇ4Ω/□。本规程不适用于二探针、三探针、六探针及方型四探针电阻率测试仪的检定。
JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪检定规程.pdf (4.76 MB)

标准文档截图:
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