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标准编号：JJG 1015-2006
中文名称：通用数字集成电路测试系统
英文名称：General Digital Integrated Circuit Testing System
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2006-12-08
实施日期：2007-03-08
标准状态：现行
标准页数：17页
内容简介：本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。
JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统.pdf
(4.18 MB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26