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GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法

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发表于 2020-6-28 14:22:37 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:GB/T 5252-2020
标准名称:锗单晶位错密度的测试方法
英文名称:Test method for dislocation density of monocrystal germanium
发布部门:国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
发布日期:2020-06-02
实施日期:2021-04-01
标准状态:现行/即将实施
替代标准:GB/T 5252-2006
标准格式:PDF
文件页数:12页
起草单位:有研光电新材料有限责任公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、中锗科技有限公司、义乌力迈新材料有限公司
起草人员:张路、冯德伸、马会超、普世坤、姚康、刘新军、郭荣贵、向清华、韦圣林、黄洪伟文
标准简介:
本标准规定了锗单晶位错密度的测试方法。
本标准适用于{111}、{100}和{113}面锗单晶位错密度的测试,测试范围为0 cm-2~100 000 cm-2。

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