T/CSP 13-2024 颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜法

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发表于 2025-1-9 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准编号：T/CSP 13-2024
中文名称：颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜法
英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy
发布部门：中国颗粒学会
发布日期：2024-11-18
实施日期：2024-11-25
标准状态：现行
标准页数：12页
内容简介：本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。

T_CSP 13-2024 颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜.pdf (684.46 KB)

标准文档截图：

中国颗粒学会

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