|
|
标准编号：DB51/T 3207-2024
中文名称：集成电路测试用微波探针应用规范
英文名称：
发布部门：四川省市场监督管理局
发布日期：2024-12-03
实施日期：2024-12-29
标准状态：即将实施
标准页数：10页
内容简介：本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
DB51_T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范.pdf
(509.99 KB)
标准文档截图：
 |
|
发表于 2024-12-17