YD/T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC

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标准编号：YD/T 3037.2-2023
中文名称：通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第2部分：UICC
英文名称：
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2023-12-20
实施日期：2024-04-01
标准状态：现行
替代标准：YD/T 3037.2-2016
标准页数：98页
内容简介：本文件规定了通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的UICC部分测试方法，主要包括：物理特性、电气特性、初始通信协议的建立、功能测试和性能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的UICC卡的研发和生产。
YD_T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容.pdf (16.81 MB)

2024-4-3 上传

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