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SN/T 4020-2013 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法

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发表于 2022-2-12 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准编号:SN/T 4020-2013
中文名称:纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法
英文名称:Determination of impurity elements content in pure iron—X-ray fluorescence spectrometry
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期:2013-11-06
实施日期:2014-06-01
标准状态:现行
标准页数:6页
内容简介:本标准规定了纯铁中杂质元素的波长色散X射线荧光光谱测定方法。本标准适用于纯铁中杂质元素硅、锰、磷、硫、铬、铜、镍和铝含量的测定,各元素测定范围见表1。
SN_T 4020-2013 纯铁杂质含量测定 X射线荧光光谱法.pdf (1.15 MB)

标准文档截图:
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