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标准编号：SN/T 2592.3-2010
中文名称：电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3部分：电感耦合等离子体质谱筛选法
英文名称：Determination of organotin compounds in electrical and electronic equipment—Part 3:Screening by inductively coupled plasma mass spectrometry
发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2010-05-27
实施日期：2010-12-01
标准状态：现行
标准页数：5页
内容简介：本部分规定了电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）测定电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选方法。本部分适用于电子电气产品聚合物部件中有机锡的筛选。有机锡的测定低限（以锡计）为0.5 mg/kg。
SN_T 2592.3-2010 电子电气产品中有机锡化合物的测定 第3.pdf
(1.21 MB)
标准文档截图：
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发表于 2022-6-4