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标准编号：DB32/T 3594-2019
中文名称：晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法
英文名称：Test method for hot-spot endurability of crystalline silicon solar cells
发布部门：江苏省市场监督管理局
发布日期：2019-04-08
实施日期：2019-04-30
标准状态：现行
标准页数：7页
内容简介：本标准规定了晶体硅太阳电池热斑耐久性能的试验原理、仪器设备、试验步骤和试验结果等。本标准适用于单晶硅、多晶硅太阳电池，也可用于经过封装，但电池的电路单独引出的样品。
DB32_T 3594-2019 晶体硅太阳电池热斑耐久性能试验方法.pdf
(1.54 MB)
标准文档截图：
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发表于 2019-12-19