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标准编号：JJF 1236-2010
中文名称：半导体管特性图示仪校准规范
英文名称：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
发布部门：国家质量监督检验检疫总局
发布日期：2010-01-05
实施日期：2010-04-05
标准状态：现行
标准页数：25页
内容简介：本规范适用于具有插件单元或附属装置的半导体管特性图示仪(以下简称图示仪)的校准。
JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范.pdf
(7.36 MB)
标准文档截图：
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发表于 2016-12-26