YD/T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端
标准编号：YD/T 3037.1-2023中文名称：通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端
英文名称：
发布部门：工业和信息化部
发布日期：2023-12-20
实施日期：2024-04-01
标准状态：现行
替代标准：YD/T 3037.1-2016
标准页数：45页
内容简介：本文件规定了终端上通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的测试方法，主要包括：电气特性、初始通信协议的建立、性能测试和功能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。
标准文档截图：
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